DSA8200

8200 시리즈 샘플링 오실로스코프 DSA8200

특징과 장점 DC ~ 70+ GHz*1의 대역폭 업계 최고의 시간축 정확도 지터 < 200fsRMS(82A04 사용 시) 800fsRMS 표준 최대 8개의 신호 포착 채널을 갖춘 모듈형 아키텍처 첨단 지터, 잡음 및 BER 분석 1Gb/s ~ 60Gb/s의 고속 직렬 데이터 분석을 통해 아이 클로저의 정확한 원인 파악 지터 및 잡음의 분리를 통해 고도로 정 확한 BER 외삽과 아이 컨투어 고성능 TDR/TDT 진정한 차동 스텝 생성기 및 신호 포착 28ps 미만의 반사 상승 시간 최대 4개의 차동 쌍 (8채널) 고 충실도의 차동 및 단일 종단 프로빙 자동화된 표준 마스크 테스팅 Sonet/SDH, Ethernet, OIF, Fibre Channel과 같은 통신 표준 SATA, SAS, PCI Express, Rapid IO와 같은 컴퓨터 표준 100개 이상의 NRZ, 펄스 및 RZ 측정 기능을 갖춘 자동화된 측정 시스템 FrameScan신호 포착 모드 데이터 종속 장애의 분리 저 전력 신호 검사를 위한 신호 평균 4색으로 표시되는 가변 지속 파형 데이터베이스 Microsoft Windows 2000 운영체제 어플리케이션 신호 무결성, 첨단 지터, 잡음 및 BER 분석 차세대 디지털 설계 특성화 통신, 데이터 통신, SAN, 컴퓨터 및 고속 백플레인 설계의 특성화 및 제조 적합성 테스트 PCB, 케이블, IC 패키지를 위한 TDR, 임피던스 특성화 및 누화 측정 *1 대역폭은 플러그인 모듈에 의해 결정되며, 향후에 더 빠른 속도의 모듈이 사용될 경우 70GHz를 초과할 수도 있습니다. 최첨단 신호 포착 시스템 CSA8200과 TDS8200 샘플링 오실로스코프 는 데이터 통신 및 통신 부품, 트랜시버 세부 조립품, 전송 시스템 분야의 연구, 설계 평가 및 제조 테스트, 컴퓨터 및 스토리지 기반의 고 속 전기 직렬 데이터, 반도체 테스트, TDR 기 반 임피던스 특성화를 비롯하여, 수십 GHZ의 대역폭을 요하는 기타 어플리케이션을 위한 포 괄적인 신호 포착 및 측정 장비입니다. 8200 시리즈는 시간 및 진폭 히스토그램, 마 스크 테스팅 및 통계 측정을 사용하여 단순한 원시 데이터가 아닌 측정 및 분석 결과를 생성 하며, RZ 및 NRZ 신호 모두에 대한 지터, 잡 음, 듀티 사이클, 오버슛, 언더슛, OMA, 소광 율(extinction ratio), Q 인자, 평균 광학력 및 증폭 측정을 포함한 통신 맞춤형 측정 집합을 제공합니다. 고속의 광/전기 통신 및 SDH/SONET, Ethernet, Fibre Channel 등과 같은 컴퓨터 표준에 대한 적합성 기반 마스크 테스팅 기능 을 갖추고 있는 8200 시리즈는 파형 데이터의 컬러/흑백 등급을 사용하여 신호 포착 및 분석 에 3차원의 샘플 밀도를 추가 분석하는 한편, 업계 최초로 가변 지속 데이터베이스를 통해 모 든 기능에 대한 정확한 데이터 및 측정 결과를 보존할 수 있으며 조정하는 동안 DUT에 대한 동적 업데이트 작업이 용이합니다. 8200 시리 즈에서는 매우 낮은 시간축 지터와 매우 빠른 신호 포착 속도가 결합되었을 뿐더러 각각 자 체 획득 파라미터와 디스플레이 창을 보유하고 있는 여러 시간대에서 데이터를 획득할 수 있 습니다. 이로써 획득 연산 및 파형 연산 기능 뿐만 아니라 데이터 평가를 위한 포괄적인 분석 기능이 가능하게 되어 히스토그램, 마스크테스팅, 통계와 같은 고급 프로세스를 수행할수 있게 됩니다. 8200 시리즈는 동시 사용이 가능한 네 개의 3D 데이터베이스를 통해 뛰어난 데이터 스토리지 유연성을 제공하고 데이터베이스는 정확한 데이터 누적을 통해 업계 최초의 가변 지속성을 제공합니다. 파형 데이터의 컬러 등급은신호 포착 및 분석에 3차원의 샘플 밀도를 추가하여 분석합니다. CSA8200과 TDS8200 모델은 동일한 기능을공유합니다. 예를 들어 이러한 두 모델은 모두임의의 샘플링 모듈과 결합되어 구성될 수 있습니다. 강력한 지터, 잡음 및 BER 분석 기능 8000, 8000B 또는 8200 시리즈 오실로스코프에 80SJNB 첨단 지터, 잡음 및 BER 분석소프트웨어가 장착되면 포괄적인 직렬 데이터신호 손상 특성화 도구가 됩니다. 80SJNB는지터와 잡음의 분리를 통해 수평 및 수직 아이클로져의 근본 원인 파악 작업을 지원합니다. 지터와 잡음의 주요 구성 요소에 대한 독보적인 통찰력을 통해 고도로 정확하고 완전한 BER 외삽 및 아이 컨투어가 제공됩니다. 8000 시리즈의 모듈형 유연성에 지터, 잡음 및 BER 분석 기능이 결합되면(, 타협 없는 성능과) 타의 추종을 불허하는 신호 충실도가 실현되어, 1Gb/s에서 60Gb/s에 이르는 차세대 고속 직렬 데이터 설계 및 검증을 위한 이상적인솔루션을 얻게 됩니다. 모듈성 및 유연성 CSA8200 및 TDS8200 오실로스코프는 점점많은 전기/광 플러그인 모듈을 지원하고 있습니다. 이와 같은 모듈형 아키텍처를 통해 현재요구에 맞는 장비를 구성할 수 있으며 향후에도 모듈을 추가할 수 있어 장비에 대한 투자가보존됩니다. 차동 클럭 복구 모듈과 함께 이 장비를 사용하면 트리거가 존재하지 않는 상황에서도 차동 전기 신호를 포착하는 일이 가능합니다. 전기 모듈이 지원하는 대역폭은 최대70GHz에 달하고 차동 및 단일 종단 패시브 핸드 프로브는 최대 18GHz의 대역폭을 지원합니다. 널리 사용되고 있는 TekConnect프로빙 시스템 용 어댑터는 8200 시리즈 샘플링오실로스코프에 텍트로닉스의 첨단 고 임피던스 차동 및 단일 종단 프로브의 성능을 실현합니다. 또한 가장 대중적인 50Mb/s ~ 12.6Gb/s의데이터 전송률을 포괄하는 차동 전기 클럭 복구 모듈도 지원됩니다. 광 모듈은 데이터 전송률 범위가 155Mb/s ~ 43Gb/s인 통신(SONET/SDH) 및 데이터 통신(Ethernet,Fibre Channel)을 위한 완벽한 광 테스트 솔루션을 제공하며, 대부분의 광 모듈에서는 통합 클럭 복구 기능이 지원됩니다.   극도로 낮은 트리거 지터와 유연성을 갖춘신호 포착 솔루션 82A04 위상 참조 모듈은 메인프레임에 극도로 낮은 지터 및 낮은 드리프트 샘플 포지션 정보를 제공함으로써 8200 시리즈 샘플링 플랫폼 기능을 더욱 강화합니다. 이 샘플 포지션 정보는 사용자가 82A04의 입력에 제공하는 클럭의 위상을 바탕으로 합니다. 클럭 신호를 바탕으로 한 샘플 포지션을 사용함으로써 200fsRMS(일반) 미만의 극도로 낮은 지터와 트리거 없이 신호를 포착할 수 있다는 두 가지 이점을 얻게 됩니다. 일반적으로는 고속 통신 장치 및 시스템의 초고속 광/전기 신호의 포착 및분석을 비롯한 이와 유사한 분야에 활용할 수있습니다. 82A04는 CSA/TDS8200과 함께독보적인 방식으로 위상 참조 시간축 기능을 구현하기 때문에 사용자는 성능의 저하없이 얼마든지 시간축과 신호 포착 모드를 선택할 수 있으며 작동 범위 내의 모든 위상 참조 주파수가수용되고 FrameScan과 같은 첨단 기능을 계속 사용할 수 있습니다. 신호 포착 시마다 DSP가 다른 CSA/TDS8200의 슬롯 아키텍처로 인해 위상 참조 모드에서의 신호 포착 속도는 40kS/s*1를 상회합니다 *1 일반적 성능. 일부 설정으로 인해 처리율이 낮아질 수 있습니다 뛰어난 성능 8200 시리즈는 업계 최고의 수평 시간축 안정성과 신호 감도 및 잡음 성능을 통해 신호를 가장 정확하게 재현해 냅니다. 반사 상승 시간이 28ps인 8200 시리즈의 진정한 차동 TDR으로 인해 복잡한 어셈블리에대한 TDR/TDT/누화를 완벽하게 측정할 수 있게 되었고 최대 4개의 듀얼 채널 모듈을 지원하는 시스템 용량을 갖추고 있어 네 개의 차동신호 쌍이 동시에 발생될 수 있습니다. P8018 단일 종단 프로브와 신형 P80318 차동 프로브는 TDR 프로빙을 위한 전체 TDR 대역폭을 지원하고 80A02 모듈은 정전기 방전으로 인한 손상을 보호합니다. 이와 같은 기능을 통해 제조 환경에서의 고른 측정으로 정확한 결과를 보장하고 TDR 모듈 자체를 보호합니다. 지원되는 IConnect 소프트웨어를 추가하면신호 무결성 분석, 임피던스, S-파라미터 및 아이 다이어그램 적합성 테스팅 및 장애 격리를포함, 기가비트 연결 링크 및 장치의 측정 기반 성능 평가 기능이 있는 효과적이고 사용이간편하며 비용 효율적인 솔루션을 얻게 됩니다. IConnect는SPICE/IBIS 시뮬레이터와 TDR/T또는 VNA S-파라미터 측정 간의 통합적인 시뮬레이션-비교 링크를 제공합니다. 이와 같은 기능을 통해 디자이너는 기가비트 연결 모델을 신속하게 추출, 검증할 수 있으며 PCB 및 플렉스보드, 패키지, 소켓, 커넥터, 케이블 어셈블리 및 입력 다이 커패시턴스의 아이 다이어그램 성능 저하, 지터, 손실, 누화, 반사, 공명 등을 예측할 수 있습니다. CSA/TDS8200은 패턴 종속적인 효과 분리를위한 데이터 비트 스캐닝과 고조파 간섭의 관측, 또는 마스크 위반을 야기하는 시퀀스 포착등을 위해 사용할 수 있는 FrameScan 신호포착 모드를 구현합니다. 아이 다이어그램 평균화와 같은 혁신적인 기능을 통해 사용자는 심벌 간 간섭의 평가나 패턴 관련 확정 지터와 임의 지터의 분리 등과 같은 응용 분야에서 평균화된 아이 다이어그램을 관측할 수 있습니다. 8200 시리즈 샘플링 오실로스코프 플랫폼 8200 시리즈는 친숙한 Microsoft Windows2000 기반의 PC 기술과 세계 최고 수준의 파형 신호 포착 기술을 결합한 텍트로닉스의 샘플링 오실로스코프 플랫폼을 바탕으로 하고 있습니다. 이 플랫폼은 폭넓은 표준 장비 및 통신 인터페이스(예: GPIB, 병렬 프린터 포트,RS-232-C/USB 직렬 포트, Ethernet LAN 연결)를 제공합니다. 또한 여러 대의 대량 저장 장치(플로피 디스크,착탈식 하드 드라이브, CD-ROM 등)가 포함되어 있습니다. 선택된 시간 주기를 측정 대상으로부터 제외하는 게이티드 트리거링(gated triggering) 기능도 제공됩니다. 시스템이Open Windows 환경을 지원하므로, 상업적으로 상용화된 소프트웨어 패키지를 사용하여 장비에 대해 직접적으로 새로운 수준의 데이터 분석을 수행할 수 있습니다. 또한 표준 소프트웨어 액세서리인 TekVISATM 사용하면 GPIB 하드웨어 인터페이스 없이도장비 상에서 운영 중인 소프트웨어 어플리케이션(LabVIEW, LabWindows, Visual Basic,Microsoft Excel, C 등)이나 장비에 연결되어있는 외부 PC 워크스테이션 네트워크를 통해장비를 제어할 수 있습니다. LabVIEW 및 기타 프로그램의 플러그 앤 플레이 드라이버도 제공됩니다. 8200 시리즈 샘플링 오실로스코프 광 모듈 80C02 고성능 통신 광 샘플링 모듈 80C02 모듈은 9.953Gb/s(SONET OC-192/SDH STM-64)에서의 긴 파장(1100 -1650nm) 신호 테스트에 최적화되어 있습니다. 또한 28GHz의 높은 광 대역폭으로 고성능의광 컴포넌트 테스트에도 적합합니다. 80C02에는 9.953Gb/s 표준을 지원하는 통합형 클럭복구 기능을 설정할 수 있습니다. 이 모듈의 상위 기능 집합은 유연한 신형 80C11 모듈에 통합되었습니다. 80C07B 다중 속도, 통신/데이터 통신 광샘플링 모듈 80C07B 모듈은 통신 및 데이터 통신 신호테스트에 최적화된 폭넓은 파장(700 ~ 1650nm), 단일/다중 모드, 다중 속도, 고감도의 광 샘플링 모듈입니다. 표준에서는OC-48/STM-16(2.488Gb/s), InfiniBand2GbE(2.500Gb/s)이 지원되며 사용자는OC-3/STM-1(155Mb/s), OC-12/STM-4(622Mb/s), Fibre Channel(1.063Gb/s), GbE(1.250Gb/s), 또는 2G Fibre Channel(2.125Gb/s) 중 두 개의 참조 수신기 필터를 추가로 선택하여 제품에 포함시킬수 있습니다. 이 모듈은 증폭 O/E 컨버터 설계를 통해 뛰어난 신호 대 잡음 성능을 제공하며, 이를 통해사용자는 저 전력의 광 신호를 검사할 수 있습니다. 80C07B에는 155Mb/s에서 2700Mb/s 사이의 속도를 지원하는 다중 속도 클럭 복구기능을 설정할 수 있습니다. 10Gb/s용 80C08C 다중 속도, 데이터 통신, 통신 광 샘플링 모듈 80C08C 모듈은 9.953Gb/s(10G BASEW), 10.3125Gb/s(10G BASE-R), 10.51875Gb/s(10G Fibre Channel),10GbE FEC(11.1Gb/s)의 10GbE 어플리케이션에 대한 데이터 통신 속도 테스팅과 STM-64/OC-192(9.953Gb/s), ITU-T G.975FEC(10.664Gb/s), ITU-TG.709(10.709Gb/s)의 통신 속도 테스팅을제공하는 폭넓은 파장(700 nm ~ 1650nm)의 단일/다중 모드, 다중 속도 광 샘플링 모듈입니다. 이 모듈은 증폭 O/E 컨버터 설계를 통해 뛰어난 신호 대 잡음 성능과 뛰어난광 감도를 자랑하며, 사용자는 이를 통해 저전력의 광 신호를 검사할 수 있습니다. 80C08C에는 9.8Gb/s에서 12.5Gb/s에 이르는 연속 속도 클럭 복구을 포함한 다양한통합 클럭 복구 솔루션을 구성할 수 있습니다. 80C10 65GHz 40Gb/s 광 샘플링 모듈 80C10 모듈은 1310nm과 1550nm에서의 폭넓은 파장의 단일 모드 파이버 지원과 39.813Gb/s(OC-768/STM-256) 및 43.018Gb/s(43Gb/s ITU-T G.709 FEC)에서의 적합성 테스트를 위한 통합형이자 선택가능한 참조 수신기 필터링 기능을 제공합니다. 사용자는 정밀한 신호 특성화를 위한 최적의 잡음 대 대역폭 성능을 위해, 필터 속도뿐 아니라 65GHz 또는 30GHz 중 하나의대역폭을 선택할 수 있습니다. 80C11 고성능 다중 속도 광 샘플링 모듈 80C11 모듈은 약 10Gb/s의 통신/데이터 통신 속도를 위한 단일 모드 파이버 상의 장파장(1100 ~ 1650nm) 신호 테스팅에 최적화되어 있습니다. 또한 30GHz(일반)의 높은 광대역폭은 일반 용도의 고성능 광 컴포넌트 테스팅에 적합합니다. 80C11에는 10Gb/s 대역(9.953Gb/s, 10.3125Gb/s, 10.51875Gb/s, 10.664Gb/s,10.709Gb/s 등)의 모든 현재 속도를 지원하는 9.8 ~ 12.5Gb/s의 통합 연속 속도 클럭복구 기능을 설정할 수 있습니다. 80C12 고 유연성, 다중 속도 광 샘플링모듈 80C12 모듈은 통신 및 데이터 통신 신호 테스트에 최적화된 폭넓은 파장(700 ~ 1650nm)의 단일/다중 모드, 다중 속도, 고감도의 광 샘플링 모듈입니다. 이 모듈에는 몇가지 참조 수신기 필터 옵션이 지원됩니다. 선택할 수 있는 필터에는 OC-3/STM-1(155Mb/s), OC-12/STM-4(62Mb/s), Fibre Channel(1.063Gb/s), 2G Fibre Channel(2.125Gb/s)과 4G Fibre Channel(4.25Gb/s), GbE(1.250Gb/s),OC-48/STM-16(2.488Gb/s), InfiniBand 2GbE(2.500Gb/s, 10GbE x 4 (3.125Gb/s의 10GBASE-x4 ) 및 3188Gb/s의 10GFC x4 등이 포함됩니다. 80C12의 클럭 복구는 80A05로 가능합니다. 80C12는 80A05 전기 클럭 복구 모듈을 위한 입력으로 사용되는전기 출력을 제공합니다. 8200 시리즈 샘플링 오실로스코프 전기 모듈 80E01 50GHz 전기 샘플링 모듈 80E01은 측정 상승 시간이 7.0ps 이하인 단일 채널 50GHz 대역폭 샘플링 모듈로서, 표시되는 잡음은 일반적으로 1.8mVRMS 정도입니다. 전면 패널의 커넥터는 2.4mm의 암커넥터이며, SMA 커넥터 시스템과의 호환성유지를 위한 어댑터(2.4mm(수) ~ 2.92mm(암))가 제공됩니다. 80E02 12.5GHz 저 잡음 전기 샘플링모듈 80E02는 디지털 통신 및 장치 특성화 어플리케이션의 저 잡음 측정을 위해 특수 설계된이중 채널 12.5GHz 샘플링 모듈로서, 28ps 의 측정 상승 시간과 통상 400㎶ RMS의 표시잡음을 선보이며 저 전력 어플리케이션에 이상적인 장비입니다. 80E02의 일반적인 응용분야는 고속 통신 회로의 스위칭 특성 포착및 표시, 신호 잡음 및 신호 타이밍 지터의정밀한 통계 측정, 고속 디지털 IC의 안정적인 타이밍 측정 등입니다. 80E03 20GHz 전기 샘플링 모듈 80E03은 이중 채널 20GHz 샘플링 모듈로서 신호 포착 상승 시간이 17.5ps입니다. 80E04 20GHz TDR 전기 샘플링 모듈 80E04는 각 채널을 위한 TDR 스텝 생성기를 갖춘 이중 채널 20GHz 샘플링 모듈입니다. TDR 스텝 생성기는 양의 극성 또는 음의 극성에서 작동하며, 진정한 차동 및 공통 모드측정을 위한 동시 작동을 지원합니다. 17ps(일반)의 인시던트 상승 시간과 28ps(일반)의 반사 상승 시간은 뛰어난 타이밍과 정밀한 해상도를 제공합니다. 80E04의 신호 포착 능력은 80E03의 포착 능력과 대등합니다. 80E06 70+ GHz 전기 샘플링 모듈 80E06은 5ps의 계산된 상승 시간의 단일 채널 70+GHz(일반) 샘플링 모듈입니다. 일반 RMS 잡음이 2.0mV인 이 샘플링 모듈은 1.85mm(Type V)의 전면 패널 커넥터와 50W SMA 종단이 있는 2.92mm 정밀 어댑터를 제공합니다. 익스텐더 케이블 전기 샘플링 모듈의 원격 조작을 위해 1m와 2m 길이의 익스텐더 케이블이 제공됩니다. 익스텐더 케이블을 사용하여 전기 모듈을 DUT 근처에 둠으로써 DUT와 전기 모듈 간의 케이블 길이를 최소화할 수 있습니다 8200 시리즈 샘플링 오실로스코프 액세서리 모듈 및 프로브 80A02 EOS/ESD 보호 모듈 80A02 EOS/ESD 보호 모듈은 텍트로닉스 전기 샘플링 모듈의 샘플링 브리지를 정전기 방전으로 인한 손상으로부터 보호합니다. 80A02는 DUT에 대량의 정전기 방전이 축적되는 전기 TDR 회로 기판 테스트와 케이블 테스트 같은 응용 분야에 적합합니다. 80A02는 CSA/TDS8200 오실로스코프의 소형 플러그인 슬롯 네 개 중 하나에 꽂거나 SlotSaver 어댑터 케이블을 사용하는 방법으로 구동될 수 있습니다. 이 장비는 SMA 테스트 케이블이나 DUT로부터의 프로브 신호 연결을 위한 전면 패널 SMA 커넥터를 제공합니다. DUT가 방전되었다는 동작 제어 신호가 80A02로 전달되고 나면 80A02는 측정을 위해 포착된 DUT 신호를 연결된 전기 샘플링 입력으로 전달합니다. 80A02는 P80318 및 P8018 고 대역폭 차동/단일 종단 핸드헬드 프로브와 함께 사용될 때뛰어난 EOS/ESD 보호 기능을 제공합니다 P80318 차동 핸드헬드 TDR 프로브 P80318은 18GHz 100W 입력 임피던스 차동TDR 핸드 프로브입니다. 이 프로브를 통해 차동 전송 라인의 고 충실도 임피던스 측정이 가능하고 조정이 가능한 프로브 피치를 사용하면폭넓은 범위의 차동 라인 간격 및 임피던스가지원됩니다. P80318 프로브는 80A02에 EOS/ESD 보호 제어를 제공하는 병렬 제어 라인을 갖춘 두 개의 정밀 SMA도 포함하고 있습니다. P8018 단일 종단 핸드헬드 TDR 프로브 P8018 핸드헬드 TDR 프로브는 전기 샘플링, TDR 회로 기판 임피던스 특성화 및 고속 전기신호 분석 어플리케이션을 위한 고성능 솔루션을 제공하는 20GHz +, 50W 입력 임피던스, 단일 종단의 패시브 프로브입니다. P8018 프로브는 80A02에 EOS/ESD 보호 제어를 제공하는 병렬 제어 라인과 정밀 SMA 케이블도 포함하고 있습니다. 80A03 TekConnect 프로브 인터페이스 모듈 80A03을 통해 CSA/TDS8200 시리즈 샘플링 오실로스코프에 두 개의 텍트로닉스 P7000 시리즈 프로브를 사용할 수 있습니다. 메인프레임의 소형 샘플링 모듈 슬롯 네 개 중 하나에 연결 가능한 80A03은 오실로스코프를 통해 구동되며, 사용자의 조정이나 외부의 전력선을 필요로 하지 않습니다. 전기 샘플링 모듈은 80A03의 슬롯에 직접 연결되어 최적의 신호 충실도와 짧은 전기 경로를 제공합니다. 또한 프로브로부터의 신호는 메인프레임 트리거입력과 같은 다른 입력이나 메인프레임에 꽂은모듈에도 연결될 수 있습니다. 설계 엔지니어들은 80A03을 사용하여 SMD 핀 상의 신호 및 기타의 파악이 어려운 회로 특성 측정에 텍트로닉스의 업계 최고 수준 액티브 및 차동 프로브가 제공하는 이점을 사용할수 있습니다. 82A04 위상 참조 모듈 82A04 모듈을 사용하면 8200 시리즈 메인프레임에 200fsRMS 이하의 극도로 낮은 지터시간축이 실현됩니다. 이와 같은 기능을 위해서는 사용자가 제공하는 참조 클럭 소스를 사용해야 합니다. 참조 클럭의 입력 주파수 범위는 지속적으로 2 ~ 60+GHz입니다. 8GHz 미만의 비 정현파 클럭에는 외부 필터가 필요할수도 있습니다. 이 모듈은 임의의 소형 모듈 슬롯에서 작동할 수 있습니다. 82A04는 전통적인 신호 포착 기능과 유사한트리거(Triggered) 작동 모드와 모든 타이밍정보가 사용자가 제공하는 클럭으로부터 전달되는 비 트리거 자유 구동(Free Run) 모드(트리거 신호가 필요 없음)를 모두 지원합니다. 외부 클럭을 사용할 수 없는 경우, 모듈은 80A05 클럭 복구 모듈과 80Cxx 모듈의 클럭 복구 출력으로부터 클럭 신호를 받을 수 있습니다. 80A05 전기 클럭 복구 모듈 80A05 전기 클럭 복구 모듈에는 전기 신호를위한 클럭 복구과 복원된 클럭에 대한 내부 트리거 기능이 있습니다. 모듈은 50Mb/s에서 12.6Gb/s에 이르는 가장 일반적인 모든 전기표준에 대해 직렬 데이터 스트림으로부터 클럭을 복구합니다. 옵션으로 표준 전송 속도에10G를 추가하여 최대 12.6Gb/s의 속도를 낼수도 있습니다. 모듈은 단일 종단 또는 차동 신호를 입력으로받아들입니다. 이 신호는 분리되어 절반은 클럭 복구 회로로 라우팅되고, 나머지 절반은 모듈의 전면으로 라우팅되어 전기 모듈의 입력으로 사용됩니다. 또한, 이 모듈은 80C12에 대한 클럭 복구 모듈로도 사용될 수 있습니다. 80C12의 전기 신호 출력은 클럭 복구을 위해 80A05로 라우팅될 수 있습니다. 80A06 PatternSync 트리거 모듈 80A06 PatternSync 트리거 모듈은 복구된클럭, 사용자 제공 클럭, 서브 레이트 클럭, 수퍼 레이트 클럭 등과 같은 데이터 관련 클럭으로부터 패턴 트리거를 생성함으로써 CSA/TDS8200 메인프레임의 기능을 강화합니다. 해당 모듈은 80SJNB 소프트웨어 패키지를 사용하는 첨단 지터, 잡음, BER 분석에필요합니다. SlotSaver 소형 모듈 익스텐더 케이블 이 케이블은 80A01, 80A02, 80A06 액세서리 모듈의 구동 및 작동에 사용되어 소형 폼 팩터 메인프레임 슬롯을 사용할 필요가 없습니다. SlotSaver 익스텐더 케이블은 메인프레임의 '트리거 전원(Trigger Power)' 커넥터나 전기샘플링 모듈 대부분의 '프리브 전원(Probe Power)' 커넥터에 꽂습니다. 8200 시리즈 샘플링 오실로스코프 어플리케이션 소프트웨어 80SJNB 첨단 지터, 잡음 및 BER 분석 80SJNB는 직렬 데이터 신호 손상 특성화를위한 종합적인 지터, 노이즈 및 비트 오류율 (BER) 분석 어플리케이션입니다. 80SJNB는지터 분석을 넘어 1Gb/s에서 60Gb/s에 이르는 오늘날의 고속 직렬 데이터 속도에 대한 지터, 잡음 및 BER 분석을 제공하는 최초의 오실로스코프 기반 어플리케이션 소프트웨어 패키지로서 지터와 잡음의 분리를 통해 수평 및수직 아이 클로저 모두의 근본 원인을 보다 빨리 식별합니다. 또한 지터 및 잡음의 모든 주요 구성 요소를 고유한 방식으로 파악하여 고도로 정확하고 완전한 BER 외삽 및 아이 컨투어 분석 결과를 제공합니다. 80SICON IConnect 연결 분석 및 모델링 소프트웨어 IConnect 소프트웨어는 신호 무결성 분석, 임피던스, S-파라미터 및 아이 다이어그램 적합성 테스트 및 장애 격리 등을 포함, 기가비트 연결 링크 및 장치의 측정 기반 성능 평가를 위한 효과적이고 사용이 간편하며 비용 효율적인 솔루션입니다. SPICE/IBIS 시뮬레이터와 TDR/T 간의 통합 시뮬레이션-비교 링크를 제공하는 IConnect를 통해 디자이너는 기가비트 연결 모델을 신속하게 추출 및 검증할수 있으며, PCB 및 플렉스보드, 패키지, 소켓, 커넥터, 케이블 어셈블리 및 입력 다이 용량에서의 아이 다이어그램 성능 저하, 지터, 손실, 누화, 반사 및 공명 등을 예측할 수 있습니다. 또한 IConnect를 사용하면 단일 종단 및 차동 S-파라미터와, TDR/T 측정으로부터의 삽입 및 반환 손실 계측을 위한 간편하고 효율적인 알고리즘을 제공함으로써, 기가비트 연결에 대한 비용 효율적이고 효과적인 규격 적합성 테스트를 수행할 수 있습니다. 아이 마스크, 아이 오프닝 및 지터 측정 기능을 통한간편한 육안 분석도 가능합니다. IConnect의진정한 임피던스 프로파일로 인해 오실로스코프의 해상도와 정밀도가 향상되며 장애를 찾아내는 작업이 보다 쉬워집니다. 80SICMX IConnect 연결 MeasureXtractorTM 모델 추출 소프트웨어 IConnect MeasureXtractor 자동 모델 추출도구는 TDR/T 또는 S-파라미터를 SPICE 또는 IBIS 시뮬레이터에 호환되는 정확한 연결모델로 변환시킵니다. 이러한 모델을 통해 디자이너는 송신기와 수신기의 연결 링크에 대해 신속하게 시스템 수준 분석을 수행할 수있습니다. 80SICMX에는 IConnect와 MeasureXtractor가 모두 포함되어 있습니다. 80SSPAR IConnect S-파라미터 IConnect S-파라미터는 기가비트의 속도로작동하는 효율적이고 간편한 도구로서, 디지털 장비 디자이너는 이 도구를 통해 연결의단일 종단, 차동 및 혼합 모드 S-파라미터를측정하고, 삽입 손실, 반환 손실 및 주파수 영역 누화를 측정하며, 연결 전기 적합성 테스트를 수행할 수 있습니다. IConnect S-파라미터는 디지털 설계, 신호 무결성 분석 및 연결 적합성 테스트 분야의 S-파라미터 측정을위한 가장 비용 효과적이고 처리율이 빠른 접근 방식으로서, 동일한 대역폭의 기존 S-파라미터 측정 장비에 비해 50%의 비용 절감 효과를 가져올 뿐 아니라 측정 속도를 획기적으로 높여 줍니다. 참조 파형(개방, 단락, 전체)또는 옵션인 50_의 부하 파형을 사용하는 S-파라미터 캘리브레이션이 단순하여 자체 측정과 설비 디임베딩(de-embedding) 참조 플레인 이동 등의 작업이 간편해 집니다.   Optical Modules: 80C07B Module   80C07B Opt. F1 F2 F3 F4 F5 F6 F7 F8 F9 F10 CR1 Bandwidth (GHz) 2.5 2.5 2.5 2.5 2.5 2.5 2.5 2.5 2.5 2.5 2.5 Wavelength range (nm) 700-1650 700-1650 700-1650 700-1650 700-1650 700-1650 700-1650 700-1650 700-1650 700-1650 700-1650 Fiber input (μm) 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 Mask test sensitivity (dBm) -22 -22 -22 -22 -22 -22 -22 -22 -22 -22 -22 Number of Channels 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 Rates Supported: ▪=Filter, ♦=Optical Clock Recovery, ⊕=Electrical Clock Recovery 125 Mb/s*3 ▪ ▪ ▪ ▪                         ♦ 155 Mb/s ▪ ▪ ▪ ▪                         ♦ 622 Mb/s ▪             ▪ ▪ ▪             ♦ 1063 Mb/s     ▪         ▪         ▪ ▪     ♦ 1250 Mb/s         ▪         ▪     ▪     ▪ ♦ 2125 Mb/s             ▪         ▪     ▪ ▪ ♦ 2488 Mb/s ▪ ▪ ▪ ▪ ▪ ▪ ▪ ▪ ▪ ▪ ♦ 2500 Mb/s ▪ ▪ ▪ ▪ ▪ ▪ ▪ ▪ ▪ ▪ ♦ 3.125 Gb/s                                             3.188 Gb/s                                             3.32 Gb/s                                             4.25 Gb/s                                             9.95 Gb/s                                             *3 125 Mb/s is supported by selecting 155 Mb/s rate. Optical Modules: 80C08C, 80C10B, 80C11, and 80C25GBE Module 80C08C 80C10B 80C25GBE 80C11 Opt.     CR1 CR2 CR4     F1         CR1 CR2 CR3 CR4 Bandwidth (GHz) 10 10 10 10 80 65 65 30 30 30 30 30 Wavelength range (nm) 700-1650 700-1650 700-1650 700-1650 1290-1330 1520-1620 1290-1330 1520-1620 1290-1330 1520-1620 1100-1650 1100-1650 1100-1650 1100-1650 1100-1650 Fiber input (μm) 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 9 9 9 9 9 9 9 Mask test sensitivity (dBm) -15 -15 -15 -15 -7 -8 -8 -9 -9 -9 -9 -9 Number of Channels 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 Rates Supported: ▪=Filter, ♦=Optical Clock Recovery, ⊕=Electrical Clock Recovery 9.95 Gb/s ▪ ♦     ♦             ♦▪ ♦ ♦ ♦ ♦ 10.31 Gb/s ▪ ♦ ♦ ♦             ▪             ♦ 10.52 Gb/s ▪     ♦ ♦             ▪             ♦ 10.66 Gb/s ▪         ♦             ▪ ♦         ♦ 10.71 Gb/s ▪         ♦             ▪     ♦ ♦ ♦ 11.1 Gb/s ▪         ♦             ▪             ♦ 11.3 Gb/s ▪         ♦             ▪             ♦ 25.78 Gb/s                     ▪ ▪                     27.74 Gb/s                     ▪ ▪                     39.81 Gb/s                 ▪ ▪                         41.25 Gb/s                 ▪ ▪                         43.02 Gb/s                 ▪ ▪                         Optical Modules: 80C12 Module 80C12 Opt. F1 F2 F3 F4 F5 F6 FC 10G CR*4 CR*5 Bandwidth (GHz) 4.25 9 9 4.25 9 9 9 10         Wavelength range (nm) 700-1650 700-1650 700-1650 700-1650 700-1650 700-1650 700-1650 700-1650         Fiber input (μm) 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5 9 or 50 or 62.5         Mask test sensitivity (dBm) -19 -19 -19 -19 -19 -19 -19 -14         Number of Channels 1 1 1 1 1 1 1 1         Rates Supported: ▪=Filter, ♦=Optical Clock Recovery, ⊕=Electrical Clock Recovery 155 Mb/s                                 ♦ ♦ 622 Mb/s                                 ♦ ♦ 1063 Mb/s ▪     ▪                     ♦ ♦ 1250 Mb/s                                 ♦ ♦ 2125 Mb/s ▪ ▪ ▪ ▪     ▪         ♦ ♦ 2488 Mb/s                                 ♦ ♦ 2500 Mb/s                                 ♦ ♦ 3.125 Gb/s             ▪ ▪ ▪ ▪     ♦ ♦ 3.188 Gb/s             ▪ ▪ ▪ ▪     ♦ ♦ 3.32 Gb/s                         ▪     ♦ ♦ 4.25 Gb/s ▪ ▪     ▪ ▪             ♦ ♦ 8.5 Gb/s*6     ▪ ▪     ▪ ▪ ▪ ▪     80A07 9.95 Gb/s                             ▪     ♦ 10.31 Gb/s*6                             ▪     ♦ 10.52 Gb/s                             ▪     ♦ 10.66 Gb/s                             ▪     ♦ 10.71 Gb/s                             ▪     ♦ 11.1 Gb/s                             ▪     ♦ 11.3 Gb/s                             ▪     ♦ *4 With 80A05 or 80A07. *5 With 80A05 Option 10G or 80A07. *6 Draft version of the 8.5GFC filter. T11 committee redefined this filter at the April 2008 meeting. New 8.5GFC filter, as defined by T11 committee in April 2009, is identical to the 10BASE-R 10.313G filter and is available for 80C12 Option 10G modules only; and is identified as 10BASE-R. DSA8200 Electrical Modules TDR Modules: 80E10, 80E08, and 80E04 The 80E10, 80E08, and 80E04 are dual-channel time domain reflectometry (TDR) sampling modules, providing up to 12 ps incident and 15 ps reflected rise time. Each channel of these modules is capable of generating a fast impulse for use in TDR mode and the acquisition portion of the sampling module monitors the incident step and any reflected energy. The polarity of each channel’s step can be selected independently. This allows for true differential or common-mode TDR or S-parameters testing of two coupled lines, in addition to the independent testing of isolated lines. The independent step generation for each channel allows true differential measurements, which ensures measurement accuracy of nonlinear differential devices. 80E10 and 80E08 feature a small form factor, fully integrated independent 2-meter remote sampler system, enabling the location of the sampler near the DUT for the best system fidelity. The modules characterize crosstalk by using TDR steps to drive one line (or line pair for differential crosstalk) while monitoring a second line (or line pair) with the other channel (or another module for differential crosstalk). The "rise time filter" function on the DSA8200 mainframe can be used with TDR or crosstalk measurements to characterize expected system performance with slower edge speeds. An optional 2 meter extender cable for the 80E04 is available, which enables placement of the module near the DUT for the best system fidelity. All modules have independent incident step and receiver deskew to remove the affect of fixtures and probes, enabling faster and easier deskew. The 80E10 sampling module provides an acquisition rise time of 7 ps, with up to 50 GHz user-selectable equivalent bandwidth (with 50 GHz, 40 GHz, and 30 GHz settings). 80E08 sampling bandwidth is 30 GHz (user-selectable with 30 GHz and 20 GHz settings) and 80E04 sampling bandwidth is 20 GHz. The 20 GHz P8018 single-ended and the 18 GHz P80318 differential variable pitch TDR handheld probes provide excellent performance, ensuring easy and accurate backplane and package measurements. TDR Module Summary Table Module Typical TDR Rise Time at Full Bandwidth Bandwidth Performance*8 RMS Noise at Bandwidth*8 Remote Sampler Incident*7 Reflected*7 80E10 12 ps 15 ps 50 GHz, 40 GHz, and 30 GHz(user-selectable) 50 GHz: 600 μV40 GHz: 370 μV 30 GHz:300 μV Yes, fully integrated 2 meter cable 80E08 18 ps 20 ps 30 GHz, 20 GHz (user-selectable) 30 GHz: 300 μV 20 GHz: 280 μV Yes, fully integrated 2 meter cable 80E04 23 ps 28 ps 20 GHz 600 μV No, optional 80N01 2 meter extender cable *7 Values shown are warranted unless printed in an italic typeface which represents a typical value. *8 Calculated from .35 bandwidth rise time product. Electrical Modules: 80E09, 80E07, 80E06, 80E03, and 80E01 The 80E09 and 80E07 are dual-channel modules with remote samplers, capable of noise as low as 450 μVRMS at 60 GHz bandwidth and 300 μVRMS noise at 30 GHz bandwidth. Each small form factor remote sampler is attached to a 2-meter cable to minimize the effects of cables, probes, and fixtures to ensure the best system fidelity. User-selectable bandwidth settings (60/40/30 on 80E09 and 30/20 on 80E07) offer optimal noise/bandwidth trade-off. 80E06 and 80E01 are single-channel 70+ and 50 GHz bandwidth sampling modules respectively. 80E06 provides the widest bandwidth and fastest rise time with world-class system fidelity. Both 80E06 and 80E01 provide a superior maximum operating range of ±1.6 V. Both modules can be used with the optional 2-meter extender cable, ensuring superior system fidelity and measurement flexibility. The 80E03 is a dual-channel 20 GHz sampling module. This module provides an acquisition rise time of 17.5 ps or less. An optional 2-meter extender cable is available. When used with Tektronix 80SJNB Jitter, Noise, and BER Analysis software, these modules enable separation of both jitter and noise into their constituent components, for insight into the underlying causes of eye closure and obtain highly accurate calculation of BER and 3-D eye contour. When used with 82A04 phase reference module, timebase accuracy can be improved down to 200 fsRMS jitter which, together with the 300 μVRMS noise floor and 14 bits of resolution, ensures the highest signal fidelity for your measurements. Electrical Module Summary Table Electrical Module Step Response at Full Bandwidth (10% - 90%)*7 Number Of Channels Bandwidth*7, *9 RMS Noise at bandwidth*7 Remote Sampler 80E09 5.8 ps 2 60 GHz / 40 GHz / 30 GHz (user-selectable) 60 GHz: 450 μV 40 GHz: 330 μV30 GHz: 300 μV Yes, fully integrated 2 meter cable 80E07 11.7 ps 2 30 GHz / 20 GHz (user-selectable) 30 GHz: 300 μV20 GHz: 280 μV Yes, fully integrated 2 meter cable 80E06 5.0 ps 1 70+ GHz 1.8 mV No, optional 80N01 - 2 meter extender cable 80E03 17.5 ps 2 20 GHz 600 μV No, optional 80N01 - 2 meter extender cable 80E01 7 ps 1 50 GHz 1.8 mV No, optional 80N01 - 2 meter extender cable *7 Values shown are warranted unless printed in an italic typeface which represents a typical value. *9 Now obsolete module useful with older versions of the mainframe, but not needed with the 8200 Series mainframes. DSA8200 Accessory Modules 82A04 Phase Reference Module The 82A04 Phase Reference Module enhances the DSA8200 sampling oscilloscope from the industry's standard timebase jitter performance of 800 fsRMS, to the extremely low timebase jitter of <200 fsRMS. Typical application for the Phase Reference module is the acquisition and analysis of very high-speed optical and electrical signals in communication devices and systems. The 82A04 supports both the Triggered mode of operation, which is similar to usual acquisition, and the untriggered Free Run mode where all timing information comes from the customer-supplied clock alone (no trigger signal necessary). When the external clock is not available the module can accept the clock signal from the clock recovery output of the 80Cxx modules, as well as from the 80A05 or 80A07 clock recovery modules. Additionally 82A04 supports SSC (Spread Spectrum Clocking) operation. 80A05 Electrical Clock Recovery Module The 80A05 Electrical Clock Recovery Module enables clock recovery for electrical signals, as well as internal triggering on the recovered clock. The module recovers clocks from serial data streams for all of the most common electrical standards in the 50 Mb/s to 4.25 Gb/s, around 5 to 6 Gb/s, and from 9.953 Gb/s to 12.5 Gb/s ranges. The module accepts either single-ended or differential signals as its input, providing clock recovery for both. The signal(s) is/are then passed on to the output connectors (at about 50% of the input level) and can be connected to sampling module(s) for differential or single-ended sampling. Option 10G is required for support of standard rates from 9.953 Gb/s to 12.6 Gb/s. The 80A05 and 80A07 can also serve as the clock recovery module for the 80C12 Optical Sampling Module. 80A06 PatternSync Module The 80A06 PatternSync Trigger Module, when used in combination with 80SJNB software, enables characterizing jitter, noise, and BER performance of high-speed serial designs from 1 Gb/s to 60 Gb/s data rates. It extends the capability of the DSA8200 sampling oscilloscope by creating a pattern trigger from any data-related clock – a recovered clock, user-supplied clock, sub-clock, or super-clock. The PatternSync Trigger Module is programmable to pattern lengths of up to 223 bits and accepts a user-supplied clock signal from 150 MHz to 12.5 GHz. The 80A06 module is required with the DSA8200 when using 80SJNB Advanced Jitter, Noise, and BER Analysis software package. This module can be used in combination with the 82A04 Phase Reference module for the best timebase accuracy or for acquisition of signals under SSC (Spread Spectrum Clocking). 80A07 Clock Recovery Module 80A07 recovers clocks from serial data streams for all of the most common electrical standards in the continuous 100 Mb/s to 12.5 GB/s range. Auto-locking capability is selectable from the user interface or programmatic interface, so the design and test engineers can search and lock onto signals of undefined or unknown datarate. The module accepts either single-ended or differential signals as its input, providing clock recovery for both. The signal(s) is/are then passed on to the output connectors and can be connected to sampling module(s) for differential or single-ended sampling. 80A07 offers complete configurability and state-of-the-art specifications and is the preferred solution for most serial data standards due to excellent stability, superior jitter and slew rate tolerance for recovering clocks from stressed or degraded signals, and unequaled PLL bandwidth and roll-off shape control for either Golden PLL compliance testing or custom PLL response. 80A07 also locks on spread-spectrum signals. The 80A07 can also serve as the clock recovery module for the 80C12 Optical Sampling Module. P80318 Differential Handheld TDR Probe The P80318 is an 18 GHz 100 Ω input impedance differential TDR hand probe. This probe enables high-fidelity impedance measurements of differential transmission lines. The adjustable probe pitch from 0.5 mm to 4.2 mm enables a wide variety of differential line spacing and impedances. The P80318 probe also includes two precision SMA cables with parallel control lines that provides the 80A02 module the control for EOS/ESD protection. P8018 Single-ended Handheld TDR Probe The P8018 Handheld TDR Probe is a 20 GHz, 50 Ω input impedance, single-ended passive probe that provides a high-performance solution for electrical sampling, TDR circuit board impedance characterization, and high-speed electrical signal analysis applications. The P8018 probe also includes a precision SMA cable and parallel control line that provides the 80A02 module the control for EOS/ESD protection. 80A02 EOS/ESD Protection Module The 80A02 EOS/ESD Protection module protects the sampling bridge of Tektronix electrical sampling module inputs from damage by electrostatic charge. The 80A02 is intended for use in applications such as electrical TDR circuit board testing and cable testing where large static charges can be stored in the DUT. When used with the matching P8018 20 GHz single-ended handheld probe or the P80318 differential handheld probe (both with probe tip pressure actuating feature) the 80A02 provides a superior technique and performance capability for electrical module EOS/ESD protection of acquired electrical signals and TDR measurements (two 80A02 modules required for differential applications). 80A03 TekConnect Probe Interface Module The 80A03 provides probe power and control for up to two Tektronix P7000 Series probes. The 80A03 is powered through the oscilloscope and requires no user adjustments or external power cords. An electrical sampling module can be plugged directly into the slot on the 80A03 to provide the optimum system fidelity and a short electrical path. Using the 80A03 designers can benefit from Tektronix' industry-leading active and differential probes to measure signals on SMD pins and other challenging circuit features. SlotSaver Small Module Extender Cable This cable can be used to power and operate one 80A01*9, 80A02, or 80A06 accessory modules, eliminating the need to consume a small form factor mainframe slot. The SlotSaver extender cable plugs into the ‘Trigger Power’ connector on the mainframe or (for 80A01 and 80A02) into the ‘Probe Power’ connector on most electrical sampling modules. *9 Now obsolete module useful with older versions of the mainframe, but not needed with the 8200 Series mainframes. DSA8200 Application Software 80SJNB Jitter, Noise, BER, and Serial Data Link Analysis (SDLA) Software 80SJNB speeds the identification of the underlying causes of both horizontal and vertical eye closure through separation of jitter and noise. With its unique insight into the constituent components of both jitter and noise, 80SJNB provides a highly accurate and complete BER calculation and eye contour analysis. Additionally available in the software package is the first-ever set of features addressing the design issues of modern Serial Data Links: equalization with either FFE or DFE, channel emulation, support for fixture de-embedding, as well as full support for SSC – Spread Spectrum Clocking. When you combine Jitter, Noise, and BER analysis with the DSA8200 modular flexibility, uncompromised performance, and unmatched signal fidelity you get the ideal solution for next-generation high-speed serial data design validation and compliance testing. 80SJNB requires the 80A06 PatternSync module, which creates a trigger pulse on each complete pattern. 80SJNB may be used with the 82A04 phase reference module for enhanced accuracy or for SSC signals, or without it depending on your requirements. SSC max. amplitude 5000 ppm (6000 ppm) at 30 ±3 kHz. Current version V2.1 of 80SJNB supports save and recall of the complete signal description. Also added is a new measurement DDPWS (Data Dependent Pulse Width Shrinkage) and a corresponding graph. 80SJNB also supports the Transmitter Waveform Dispersion Penalty (TWDP) measurement (download the free U80TWDP_LRM utility from www.tektronix.com). 80SJNB Jitter and Noise Analysis Measurements Jitter Analysis Measurements Description TJ at BER Total jitter at specified BER RJ Random jitter RJ(h) Horizontal component of random jitter RJ(v) Vertical component of random jitter RJ(d-d) Random jitter according to the dual Dirac model DJ Deterministic jitter DDJ Data dependent jitter DDPWS Data Dependent Pulse Width Shrinkage DCD Duty cycle distortion DJ(d-d) Deterministic jitter computed in the dual-Dirac model PJ Periodic jitter PJ(h) Horizontal component of periodic jitter PJ(v) Vertical component of periodic jitter EO at BER Horizontal eye opening at specified BER SSC Magnitude Magnitude of SSC modulation in ppm SSC Frequency Frequency of SSC modulation in ppm (profile: see 80SJNB for information) 80SJNB Noise Analysis Measurements Description RN Random noise RN(v) Vertical component of random noise RN(h) Horizontal component of random noise DN Deterministic noise DDN1 Data-dependent noise on logical level 1 DDN0 Data-dependent noise on logical level 0 PN Periodic noise PN(v) Vertical component of periodic noise PN(h) Horizontal component of periodic noise EO at BER Vertical eye opening at specified BER New: 80SJNB Advanced Supports: FFE (Feed Forward Equalization) to 100 Taps DFE (Decision Feedback Equalization) to 40 Taps Filter for Support of Linear Filters from Fixture De-embed to Transmitter Equalization. Channel Emulation supported for channels with >30 dB of loss at 1st harmonic frequency IConnect? Signal Integrity TDR and S-parameter Software Operating on the DSA8200 TDR platform, IConnect? S-parameters is the most cost-effective and highest throughput approach for S-parameter measurements in digital design, signal integrity analysis, and interconnect compliance testing, providing as much as 50% cost savings compared to similar bandwidth VNAs, and dramatically speeding up measurements. You can also take advantage of IConnect? S-parameters command line interface, which automates the S-parameter measurements, to the overall suite of manufacturing tests you perform using your TDR instrument, significantly reducing test time while increasing measurement repeatability. The simplicity of S-parameter calibration using a reference (open, short, or through), and an optional 50 Ω load makes the measurement, fixture de-embedding, and moving the reference plane a snap. Touchstone file format output enables easy S-parameter file sharing for further data analysis and simulations. Tektronix offers several true differential TDR modules, which in combination with IConnect? offers S-parameter measurements to 50 GHz with up to -70 dB of dynamic range. This performance exceeds requirements for serial data analysis, digital design, and signal integrity applications, resolving down to 1% (-40 dB) accuracy of crosstalk, whereas electrical compliance testing masks typically call for the measurements in the -10 to -30 dB range. IConnect? software allows you to quickly and easily generate SPICE and IBIS models for your PCBs, flex boards, connectors, cables, packages, sockets, and I/O buffer inputs directly from TDR/T or VNA S-parameter measurements. IConnect? allows you to display eye-diagram degradation, jitter, loss, crosstalk, reflections, and ringing in your digital system. IConnect? Linear Simulator allows the designer to link several interconnect channels together to evaluate the total time, frequency domain performance, and eye diagram of the overall channel. IConnect? substantially simplifies the signal integrity analysis of the interconnect link, equalization and emphasis component design, and analysis of the interconnect link with transmitter and receiver.